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QSpec科思凱係列>> 透過反射率測試儀>>TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)  

TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)

 

 

TMS是一套全波長的絕對透過率測量儀(ir透過率測量儀),能快速準確地測量各類平麵、球麵、非球麵等光學元件的相/絕對透射率,可用於實時顯示單、多點波長透過率數據及指定波段平均透過率數據。適用於手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平麵、球麵非球麵光學元件及組合鏡頭等的檢測。紫外透過率測量儀專為檢測樣品紫外波段透過率設計。

 

紫外透過率測量儀

 

顯微透過率測量儀基於普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行精確定位,用小尺寸光斑(0.3mm)測試樣品微小區域的相/絕對透射率。除了可對玻璃、平行平板、太陽膜、濾光片等平麵光學元件的透過率檢測之外,特別適用於手機蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區域的透過率檢測。

 

TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)-技術參數

型號

TMS(I型)

TMS(Ⅱ型)

TMS(III型)

探測器

Sony線形CCD 陣列

Hamamatsu背照2D-CCD

Hamamatsu背2D-CCD

檢測範圍

380-1000nm

(紫外:200-850nm)

380-1100nm

(紫外:200-1100nm)

360-1100nm

(紫外:225-1000nm)

信噪比(全信號)

250:1

450:1

1000:1

相對檢測誤差

﹤0.6%(410-900nm)

<0.4%(410-1000nm)

﹤0.2%(410-1000nm)

檢出限

0.1%

0.05%

0.01%

單次測量時間

﹤1s

CCD製冷

未製冷

未製冷

-20℃

樣品尺寸

≥ Φ1.5mm (顯微:≥0.8nm)

光斑

可調,≥ Φ0.6mm(顯微≥ Φ0.3mm)

操作係統/接口

Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

電源/功率

220V-50HZ /6W

 

TMS透過率測量儀-獨特的軟件設計

l        智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據,自動調整顯示坐標範圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

l        譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,最大程度地方便了譜圖的管理和分析。

l        自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。

l        譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利於進一步對譜圖進行分析和研究。

l        CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數, x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。

l        數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。

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